本申請公開了一種教師批改標(biāo)記的檢測方法、電子設(shè)備以及存儲介質(zhì)。該方法包括:以通道擴(kuò)展方式對待檢測圖像進(jìn)行信息無損下采樣,得到預(yù)處理圖像;從預(yù)處理圖像提取特征圖;基于特征圖進(jìn)行目標(biāo)檢測處理,以得到教師批改標(biāo)記的檢測結(jié)果。本申請通過以通道擴(kuò)展方式對待檢測圖像進(jìn)行信息無損下采樣,得到預(yù)處理圖像,之后基于該預(yù)處理圖像獲取目標(biāo)檢測結(jié)果,在減少檢測方法的總體計(jì)算量的同時,將圖像的細(xì)節(jié)信息保留在預(yù)處理圖像的通道中,極大減少了細(xì)節(jié)損失,提高了檢測精度。該檢測方法實(shí)現(xiàn)了在降低總體計(jì)算量的同時保留細(xì)節(jié)信息,提高了教師批改標(biāo)記的檢測精度和檢測速度。
聲明:
“教師批改標(biāo)記的檢測方法、電子設(shè)備以及存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)