本發(fā)明涉及一種半導體激光器參數(shù)測試和可靠性分析的方法及裝置。該裝置主要由微機(1)、樣品箱(3)、數(shù)據(jù)采集板(4)、電流電壓轉換電路(7)、光電探測器(30)、電壓電流轉換電路(10)及信號源(11)和鎖相放大器(8)等構成。通過對器件(29)電導數(shù)曲線、熱阻、功率及變溫曲線等的測試,用測得的參數(shù)對器件進行可靠性分析。本發(fā)明具有微機化、自動化、加溫均勻、一次逐個檢測多個器件等特點,實現(xiàn)對器件可靠性無損、快速、簡便的檢測和分析。
聲明:
“半導體激光器可靠性檢測分析方法及其裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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