本發(fā)明涉及農(nóng)產(chǎn)品無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域,尤其是一種電子束圖像的水果表面缺陷檢測(cè)方法。首先建立水果表面缺陷等級(jí)模型,依次采集表面不同缺陷等級(jí)的水果的電子束輻照?qǐng)D像,將圖像轉(zhuǎn)化為特征參數(shù)導(dǎo)入系統(tǒng)內(nèi)作為對(duì)比樣本;對(duì)實(shí)測(cè)水果進(jìn)行檢測(cè):首先用電子束輻照待測(cè)水果表面,用信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)接收到待測(cè)水果在電子束作用下產(chǎn)生的物理信號(hào),再經(jīng)過(guò)視頻放大系統(tǒng)顯像,獲得樣品至少6個(gè)面的特征參數(shù);將實(shí)測(cè)水果的特征參數(shù)與對(duì)比樣本比較,預(yù)測(cè)實(shí)測(cè)水果的表面缺陷等級(jí)。該方法通過(guò)電子束輻照水果表面,激發(fā)出各種物理信息,通過(guò)對(duì)這些信息的接收、放大和顯示成像,獲得水果表面形貌的觀察。本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)無(wú)損檢測(cè),且無(wú)需人工判斷,易于操作,適用范圍廣。
聲明:
“電子束圖像的水果表面缺陷檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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