本發(fā)明公開了一種渦輪葉片內(nèi)腔殘芯檢測方法及系統(tǒng),涉及葉片無損檢測技術(shù)領(lǐng)域,所述方法,包括:獲取目標(biāo)溫度場分布圖像;目標(biāo)溫度場分布圖像是對(duì)處于第一設(shè)定條件下的目標(biāo)渦輪葉片進(jìn)行溫度采集得到的;第一設(shè)定條件為目標(biāo)渦輪葉片處于第一設(shè)定溫度下的冷氣流中,且向目標(biāo)渦輪葉片內(nèi)通入第二設(shè)定溫度的熱氣流;將目標(biāo)溫度場分布圖像與無殘芯溫度場分布圖像進(jìn)行對(duì)比,確定目標(biāo)渦輪葉片內(nèi)部是否存在殘芯。本發(fā)明能實(shí)現(xiàn)對(duì)渦輪葉片內(nèi)腔殘芯的高精度無損檢測。
聲明:
“渦輪葉片內(nèi)腔殘芯檢測方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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