本發(fā)明公開了一種特定場(chǎng)景中RFID標(biāo)簽的讀寫性能自動(dòng)檢測(cè)方法,方法步驟如下,a.檢測(cè)場(chǎng)景搭建;b.場(chǎng)景腳本編制;c.自動(dòng)檢測(cè)執(zhí)行;d.檢測(cè)數(shù)據(jù)記錄;e.檢測(cè)結(jié)果分析。與現(xiàn)有檢測(cè)方法相比較,本發(fā)明利用檢測(cè)控制軟件系統(tǒng)調(diào)用位置控制器驅(qū)動(dòng)異步電機(jī)自動(dòng)變更RFID標(biāo)簽與固定平臺(tái)的RFID讀寫器之間的相對(duì)位置實(shí)現(xiàn)了采用場(chǎng)景腳本自動(dòng)驅(qū)動(dòng)檢測(cè)行為;實(shí)現(xiàn)快速RFID標(biāo)簽多場(chǎng)景復(fù)合無(wú)損自動(dòng)檢測(cè);每個(gè)場(chǎng)景下均可以自動(dòng)計(jì)算出單個(gè)RFID標(biāo)簽讀寫性能的有效性與一致性量化指標(biāo)信息;在特定場(chǎng)景檢測(cè)RFID標(biāo)簽讀寫性能的有效性與一致性對(duì)實(shí)際應(yīng)用環(huán)節(jié)有更好的參考性。
聲明:
“特定場(chǎng)景中RFID標(biāo)簽的讀寫性能自動(dòng)檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)