為克服現有半導體樣品缺陷檢測系統(tǒng)檢測效率低、精確度差以及有損的問題,本發(fā)明提供了一種用于半導體缺陷檢測的系統(tǒng),包括第一光源,用于使半導體樣品產生散射光,第二光源,用于使半導體樣品產生第一反射光,第三光源,用于使半導體樣品產生第二反射光和光致發(fā)光;光致發(fā)光檢測組件,用于檢測半導體樣品上單個發(fā)光單元的熒光光譜以及熒光圖像;散射光檢測組件,用于檢測散射光的圖像;反射光檢測組件,用于檢測第一反射光和第二反射光的圖像。本發(fā)明提供的檢測系統(tǒng)能夠同時、快速、無損的進行半導體外表面缺陷、次表面缺陷以及器件缺陷檢測,檢測準確度高,適用Mini LED、Micro LED的缺陷檢測和質量分析。
聲明:
“用于半導體缺陷檢測的系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)