本發(fā)明公開了一種帶涂層渦流檢測(cè)對(duì)比試塊及其制作方法,屬于無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域。該渦流檢測(cè)試塊包括:基體、涂層以及若干矩形槽;試塊涂層噴涂在基體表面;若干矩形槽開設(shè)在基體表面。該試塊的制作方法包括:制備試塊基體;利用電火花在基體表面加工若干矩形槽;若干矩形槽內(nèi)填充
氧化鋁粉和硅膠混合液,至矩形槽填充平為止,并干燥、焙燒;試塊基體表面噴涂涂層。本發(fā)明能有效地模擬被檢件真實(shí)裂紋的大??;渦流檢測(cè)用的試塊與被檢件的材質(zhì)、熱處理狀態(tài)及表面狀態(tài)基本一致,其上有不同尺寸矩形槽,能有效用于設(shè)定檢驗(yàn)靈敏度、評(píng)定裂紋的大小和位置。
聲明:
“帶涂層渦流檢測(cè)對(duì)比試塊及其制作方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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