本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环NRAM內(nèi)存檢測(cè)方法,包括:確定待檢測(cè)RAM內(nèi)存區(qū)域中的數(shù)據(jù)為原碼;將對(duì)所述原碼進(jìn)行取反后生成的反碼存入備份內(nèi)存區(qū)域;若所述原碼和所述反碼中存在相同數(shù)據(jù),判定所述原碼中的數(shù)據(jù)存在物理?yè)p壞;否則,對(duì)從所述備份內(nèi)存區(qū)域中讀取到的反碼,進(jìn)行取反運(yùn)算,使用CRC算法對(duì)進(jìn)行取反運(yùn)算后的數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗(yàn),生成備份CRC校驗(yàn)碼;比較所述原碼對(duì)應(yīng)的原參CRC校驗(yàn)碼和所述備份CRC校驗(yàn)碼是否一致;若是,判定所述待檢測(cè)RAM內(nèi)存區(qū)域所關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)線無(wú)損壞或原碼中的數(shù)據(jù)未被篡改;若否,判定所述待檢測(cè)RAM內(nèi)存區(qū)域所關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)線損壞或原碼中的數(shù)據(jù)被篡改。因此,本申請(qǐng)能夠檢測(cè)出引起數(shù)據(jù)存儲(chǔ)不正確的原因。
聲明:
“RAM內(nèi)存檢測(cè)方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)