本發(fā)明公開了一種貴金屬制品的快速檢測方法,本發(fā)明是一種貴金屬制品的快速檢測方法采用X射線熒光光譜儀檢測被測樣品表層的主要成分及成分含量初步判斷被測樣品是否合格,再進(jìn)一步的利用超聲波測厚儀對(duì)被測樣品進(jìn)行檢測,通過超聲波測厚儀發(fā)出的超聲波脈沖到達(dá)被測樣品的第一個(gè)物質(zhì)界面并反射回超聲波測厚儀所消耗的時(shí)間,以計(jì)算出被測樣品測試點(diǎn)與第一個(gè)物質(zhì)界面之間的厚度值d2,與游標(biāo)卡尺測得的被測樣品的厚度值進(jìn)行比較,若滿足|d2/d1?1|*100%≤5%,即可判斷被測樣品合格。本方法可無損、快速、準(zhǔn)確、便捷的檢測出被測樣品是否合格,對(duì)于大型檢驗(yàn)中心在檢驗(yàn)任務(wù)較多的情況下,可大大提高工作效率,減低成本。
聲明:
“貴金屬制品的快速檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)