本發(fā)明涉及一種零件內(nèi)部缺陷檢測(cè)方法,屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。首先將待檢零件置于檢測(cè)電路中,所述檢測(cè)電路由一并聯(lián)電路組成,一路將待檢零件與電阻R1串聯(lián),另一路將標(biāo)準(zhǔn)零件與電阻R2串聯(lián),R1與待檢零件之間設(shè)置有第一連接點(diǎn)(1),R2與標(biāo)準(zhǔn)零件之間設(shè)置有第二連接點(diǎn)(2),所述第一連接點(diǎn)(1)與第二連接點(diǎn)(2)之間設(shè)置有電表;之后,將所述檢測(cè)電路通電,調(diào)節(jié)電阻R1/R2,使R1與R2電阻相同,根據(jù)電表讀數(shù)確定待檢零件的缺陷及缺陷程度,若電表讀數(shù)在設(shè)置閥值內(nèi),則待檢零件無(wú)缺陷,否則,待檢零件有缺陷。本發(fā)明利用材料損傷前后的電阻抗會(huì)發(fā)生變化的特性,研判零件是否存在深層損傷或內(nèi)部缺陷。適于對(duì)零件內(nèi)部缺陷進(jìn)行高效檢測(cè)。
聲明:
“零件內(nèi)部缺陷檢測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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