本申請?zhí)岢鲆环N基于Chirp信號的旋轉(zhuǎn)層析缺陷檢測方法和裝置,涉及無損檢測技術(shù)領(lǐng)域,其中,方法包括:控制磁化裝置中多對磁化線圈激勵電流,以使在被測結(jié)構(gòu)件內(nèi)部產(chǎn)生無極變頻旋轉(zhuǎn)磁場;磁傳感陣列按照等旋轉(zhuǎn)角度原則采集被測結(jié)構(gòu)件表面的磁場數(shù)據(jù),并實時傳送到數(shù)據(jù)分析模塊;數(shù)據(jù)分析模塊對各個時刻下的磁場數(shù)據(jù)進行聯(lián)合解耦,獲取被測結(jié)構(gòu)件內(nèi)部的層析結(jié)果。由此,由于Chirp信號在不同時刻頻率不同,因此感生渦流在各個時刻下的集膚深度不同,通過對Chirp信號頻率變化率進行控制,實現(xiàn)對被測結(jié)構(gòu)件不同深度處缺陷的同靈敏度檢測,以及采集不同時刻下被測結(jié)構(gòu)件的表面磁場信號,對特定時刻下的磁場信號進行聯(lián)合解耦,從而實現(xiàn)對缺陷的層析檢測。
聲明:
“基于Chirp信號的旋轉(zhuǎn)層析缺陷檢測方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)