本發(fā)明屬于無損檢測技術(shù)領域,具體為一種基于改進的動態(tài)深度聚焦的相控陣超聲檢測方法,該方法包括相控陣超聲發(fā)射和接收步驟、缺陷判別步驟、延遲時間計算步驟、回波信號后處理步驟以及B型圖重構(gòu)步驟共五個步驟。本發(fā)明將超聲回波信號準確聚焦到缺陷位置,可以解決當缺陷反射回波信號的信噪比過低時所造成的缺陷識別困難的問題;本發(fā)明可以有效解決由于被檢工件的材料不均勻?qū)е吕硐虢裹c與實際焦點存在偏差的問題,對于分層介質(zhì)和各向異性介質(zhì)的相控陣超聲檢測,可以有效提高檢測分辨率;本發(fā)明還可以減少相控陣探傷儀等硬件系統(tǒng)誤差所引起的超聲成像結(jié)果模糊、畸變問題,提高相控陣超聲成像質(zhì)量。
聲明:
“基于改進的動態(tài)深度聚焦的相控陣超聲檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)