本發(fā)明公開了一種使用太赫茲電磁波檢測物體的電磁特性的系統(tǒng)及方法,包括信號源,其能夠產(chǎn)生相同的發(fā)射信號和參考信號,所述發(fā)射信號與參考信號為太赫茲電磁波信號;信號發(fā)射單元,其位于被測物體一側(cè),所述發(fā)射信號通過信號發(fā)射單元朝被測物體發(fā)射電磁波,所述信號發(fā)射單元為相控陣天線;信號接收單元,其位于被測物體另一側(cè),所述信號接收單元接收所述相控陣天線發(fā)出的電磁波;信號比較單元,其將所述信號接收單元接收的電磁波信號與所述參考信號進(jìn)行比對,得到兩者的幅值比和相位差比,進(jìn)而獲得被測物體的電磁特性。其能夠使用太赫茲電磁波檢測物體的電磁特性,實(shí)現(xiàn)無損檢測,精度高,效果好。
聲明:
“使用太赫茲電磁波檢測物體的電磁特性的系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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