本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N大米加工精度的檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì);所述檢測(cè)方法包括以下步驟:獲取包括隨機(jī)放置的多粒目標(biāo)大米的初始大米圖像,從中提取出每個(gè)單粒目標(biāo)大米的目標(biāo)圖像;根據(jù)目標(biāo)圖像,提取出每個(gè)單粒目標(biāo)大米的多個(gè)特征參數(shù);特征參數(shù)包括顏色特征參數(shù)和紋理特征參數(shù),紋理特征參數(shù)是根據(jù)目標(biāo)圖像中像素點(diǎn)的灰度和梯度提取得到的;對(duì)多個(gè)特征參數(shù)進(jìn)行降維融合處理,得到多個(gè)目標(biāo)融合特征,多個(gè)目標(biāo)融合特征的累計(jì)貢獻(xiàn)率大于預(yù)設(shè)累計(jì)貢獻(xiàn)率閾值;將多個(gè)目標(biāo)融合特征輸入至訓(xùn)練好的檢測(cè)模型,得到每個(gè)單粒目標(biāo)大米的加工精度檢測(cè)結(jié)果,從而快速、無損、客觀、準(zhǔn)確的確定大米加工精度。
聲明:
“大米加工精度的檢測(cè)方法、裝置、電子設(shè)備及介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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