本發(fā)明涉及一種多頻太赫茲?rùn)z測(cè)裝置、系統(tǒng)及其方法。該裝置包括:用于發(fā)射不同頻率的太赫茲波的多頻太赫茲發(fā)射裝置;設(shè)置于多頻太赫茲發(fā)射裝置的太赫茲波發(fā)射路徑上、用于反射太赫茲波至被測(cè)物品以對(duì)被測(cè)物品進(jìn)行掃描的掃描裝置;設(shè)置于被測(cè)物品的透射光路方向上的成像裝置;設(shè)置于被測(cè)物品至成像裝置的傳輸光路方向上、用于可疑物品檢測(cè)時(shí)將被測(cè)物品透射的不同頻率的太赫茲波反射至功率檢測(cè)模塊的反射裝置;設(shè)置于被測(cè)物品透射的不同頻率的太赫茲波的反射光路方向上的功率檢測(cè)裝置。通過(guò)上述多頻太赫茲?rùn)z測(cè)裝置,無(wú)需對(duì)被測(cè)物品進(jìn)行拆封處理,實(shí)現(xiàn)了對(duì)被測(cè)物品的無(wú)損檢測(cè)。
聲明:
“多頻太赫茲?rùn)z測(cè)裝置、系統(tǒng)及其方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)