一種基于頻域稀疏反演的TOFD盲區(qū)內(nèi)缺陷定量檢測方法,屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。該方法采用TOFD超聲
檢測儀、TOFD探頭、楔塊及掃查裝置構(gòu)成的測試系統(tǒng)。對(duì)TOFD檢測中近表面區(qū)域進(jìn)行掃查,對(duì)采集到的混疊時(shí)域信號(hào)進(jìn)行處理,建立稀疏反演模型。考慮反射序列稀疏與可分解特性,在頻域中建立TOFD盲區(qū)檢測的目標(biāo)函數(shù)。選取高信噪比部分頻譜數(shù)據(jù)進(jìn)行反演,實(shí)現(xiàn)直通波、缺陷上端點(diǎn)及下端點(diǎn)衍射波混疊信號(hào)的分離。根據(jù)反演結(jié)果,直接讀取直通波與缺陷上端點(diǎn)、下端點(diǎn)衍射波聲程差,確定近表面盲區(qū)內(nèi)缺陷埋深與高度。與其他近表面缺陷檢測方法相比,該方法可分離多個(gè)混疊信號(hào),能實(shí)現(xiàn)近表面盲區(qū)內(nèi)缺陷的深度和高度同時(shí)測量,且對(duì)硬件系統(tǒng)無額外要求,具有較好的工程應(yīng)用價(jià)值。
聲明:
“基于頻域稀疏反演的TOFD盲區(qū)內(nèi)缺陷定量檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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