本發(fā)明涉及一種基于介電頻譜的小型西瓜成熟度檢測方法,其包括步驟:將待測西瓜放置于由三組緊貼西瓜表面的電極組成的檢測裝置中,電極之間施加交變電動勢,測量西瓜對交變電動勢的介電響應(yīng)信號,將所得介電頻譜信號進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,通過聚類分析,對西瓜的成熟度進(jìn)行判斷;同時采集測試時的溫度信息,并在數(shù)據(jù)分析過程中進(jìn)行溫度補(bǔ)償。本發(fā)明提出的方法通過不同頻率的介電譜來實(shí)現(xiàn)無損檢測,克服因僅僅使用單一頻率導(dǎo)致測量不準(zhǔn)確的問題,同時由于從多個角度進(jìn)行介電頻譜掃描,降低了因個體差異性導(dǎo)致的測量誤差;消除了電磁干擾、消除了激勵電路對采集電路的高頻干擾;增加了溫度補(bǔ)償算法,消除溫度變化對測量準(zhǔn)確度的影響。
聲明:
“基于介電頻譜的小型西瓜成熟度檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)