本實(shí)用新型公開了一種青銅器表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，包括光路產(chǎn)生裝置、數(shù)據(jù)采集裝置以及數(shù)據(jù)處理裝置；其中，光路產(chǎn)生裝置包括激光發(fā)生器和光路調(diào)節(jié)器；數(shù)據(jù)采集裝置包括電容式位移傳感器、前置放大器及高速數(shù)據(jù)采集卡；數(shù)據(jù)處理裝置包括數(shù)據(jù)處理器和顯示器，數(shù)據(jù)采集裝置用以提取放大后的電位移信號(hào)，數(shù)據(jù)處理裝置用以提取因缺陷非線性調(diào)制作用引起的新的超聲頻率成份的特征值，并將特征值按照掃描點(diǎn)的空間位置進(jìn)行排布，以將缺陷位置及尺寸以圖像方式表現(xiàn)出來，并在顯示器進(jìn)行可視化顯示。本實(shí)用新型所公開系統(tǒng)能掃描檢測(cè)青銅器表面缺陷的位置及尺寸信息，具有檢測(cè)效率高、檢測(cè)精度高、對(duì)待測(cè)青銅器表面無損傷等優(yōu)點(diǎn)。