本發(fā)明公開了一種基于太赫茲時域光譜的絕緣子污穢度檢測方法及裝置,包括配置不同質(zhì)量NaCl的絕緣子污穢樣品;計算不同質(zhì)量NaCl的絕緣子污穢樣品的等值鹽密;通過反射式太赫茲時域光譜儀對絕緣子污穢樣品的等值鹽密進行檢測,得到絕緣子污穢樣品的太赫茲光譜;通過絕緣子污穢樣品的太赫茲光譜,建立不同等值鹽密絕緣子污穢樣品的光譜對比數(shù)據(jù)庫,得到標準數(shù)據(jù)庫;獲取待測絕緣子,通過反射式太赫茲時域光譜儀得到待測絕緣子污穢的太赫茲光譜;將待測絕緣子污穢的太赫茲光譜與標準數(shù)據(jù)庫進行對比,得到待測絕緣子表面污穢的等值鹽密,進而可知待測絕緣子的污穢度。本發(fā)明通過太赫茲時域光譜技術,能夠?qū)^緣子污穢度實現(xiàn)快速、準確、高效、無損的檢測。
聲明:
“基于太赫茲時域光譜的絕緣子污穢度檢測方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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