本公開實施例公開了一種涂層厚度檢測系統(tǒng)及方法。其中,涂層厚度檢測系統(tǒng),包括:恒溫腔體、移動機(jī)構(gòu)和測量機(jī)構(gòu);移動機(jī)構(gòu)和測量機(jī)構(gòu)設(shè)置在恒溫腔體內(nèi);測量機(jī)構(gòu)設(shè)置在移動機(jī)構(gòu)上,測量機(jī)構(gòu)在移動機(jī)構(gòu)的帶動下在恒溫腔體內(nèi)移動,測量機(jī)構(gòu)對被測量物的涂層厚度進(jìn)行測量,測量機(jī)構(gòu)基于光熱法對涂層厚度進(jìn)行測量。光熱法沒有輻射,實現(xiàn)對人體無輻射損傷危害,不用接觸被測量物,實現(xiàn)對被測量涂層厚度的非接觸無損傷測量,受被測量涂層的平面和基材影響較小,可實現(xiàn)在曲面、粗糙的表面和不同厚度的基材上測量,受系統(tǒng)的振動幅度、被測距離控制精度和測量角度精度的影響較小,能夠有效減少外界因素對測量的影響。
聲明:
“涂層厚度檢測系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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