本發(fā)明涉及無損檢測(cè)技術(shù),具體涉及一種相控陣超聲檢測(cè)能力驗(yàn)證試塊組以及使用方法,其包括YZ?Ⅰ型、YZ?Ⅱ型、YZ?Ⅲ型、YZ?Ⅳ型和YZ?Ⅴ型共五個(gè)試塊且其厚度依次分別對(duì)應(yīng)為4mm、8mm、15mm、20mm和40mm。每個(gè)試塊上根據(jù)厚度設(shè)置有數(shù)個(gè)橫通孔以及一對(duì)刻槽,提高檢測(cè)的可靠性。
聲明:
“相控陣超聲檢測(cè)能力驗(yàn)證試塊組及其使用方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)