本發(fā)明公開了一種快速無損檢測富士蘋果機(jī)械損傷的方法。該方法包括如下步驟:將待測蘋果于20cm高處自由落體至地面,接住后在所述蘋果的同一橫切面上均勻取點(diǎn)進(jìn)行可見-近紅外光譜的連續(xù)光譜檢測,記錄所得四個(gè)點(diǎn)在不同波長的吸光度數(shù)值,得到的光譜數(shù)據(jù)應(yīng)用TQ?analyst8.0軟件中的附加散射校正技術(shù)MSC進(jìn)行預(yù)處理,然后用判別分析的方法對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,判斷其是否有損傷。該方法鑒別效果準(zhǔn)確率高,鑒別過程簡單,模型建立好后,無需專業(yè)背景人員即可完成鑒別過程,易于推廣。
聲明:
“檢測蘋果機(jī)械損傷的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)