本發(fā)明屬于無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種陣列渦流與相控陣超聲復(fù)合的檢測(cè)探頭,包括外殼;外殼的一側(cè)內(nèi)壁上設(shè)置由兩排相互錯(cuò)開(kāi)的渦流線圈組成的渦流線圈陣列;各渦流線圈上均設(shè)置第一導(dǎo)線,第一導(dǎo)線一端與渦流線圈連接,另一端與外殼外壁上設(shè)置的多路復(fù)用器連接;渦流線圈陣列的一側(cè)設(shè)置若干第一壓電晶片,若干第一壓電晶片線陣列縱向排布或線陣列橫向排布;各第一壓電晶片上均設(shè)置第二導(dǎo)線,第二導(dǎo)線一端與第一壓電晶片的正極連接,另一端與外殼外壁上設(shè)置的第一接口連接。通過(guò)將陣列渦流探頭與相控陣超聲探頭集成在同一探頭上,只需一次檢測(cè)就可實(shí)現(xiàn)表面、近表面缺陷和內(nèi)部缺陷的檢測(cè),實(shí)現(xiàn)了較高的表面、近表面分辨力。
聲明:
“陣列渦流與相控陣超聲復(fù)合的檢測(cè)探頭” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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