本發(fā)明公開了太赫茲瞬態(tài)熱成像檢測和層析成像系統(tǒng)及方法。系統(tǒng)由控制模塊、太赫茲光源、太赫茲鏡片組、熱像儀、計算機及多個算法模塊等組成。采用脈沖或連續(xù)太赫茲光束對被檢對象進行加熱,采用熱像儀記錄被檢對象表面的瞬態(tài)溫度信號。對不同時刻的熱像圖進行空間導(dǎo)數(shù)變換,檢測淺層缺陷;對瞬態(tài)溫度信號和參考信號進行差分、一階求導(dǎo)、二階求導(dǎo)和傅里葉變換等處理,提取最大值時間、峰值時間、分離時間、分離頻率、峰值頻率等作為特征值;采用特征值進行成像顯示,實現(xiàn)缺陷檢測;建立特征值與深度的定量關(guān)系,對未知缺陷的深度進行定量;利用不同時間范圍的溫度變化率,實現(xiàn)不同深度范圍的層析成像。該發(fā)明可應(yīng)用于無損檢測、醫(yī)學(xué)成像等領(lǐng)域。
聲明:
“太赫茲瞬態(tài)熱成像檢測和層析成像系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)