本發(fā)明公開了一種鋰離子電池自放電內(nèi)在影響因素檢測方法,該方法包括先用X射線層析成像測量系統(tǒng)獲取自放電不合格的鋰離子電池零部件的三維層析圖像,然后通過圖像處理,從電池零部件層析圖像中提取出正負(fù)極極板、極耳、隔膜、電解液的層析圖像,接著分析層析圖像上組分的密度、形狀、位置等物性參數(shù),通過與數(shù)據(jù)庫中自放電符合要求的鋰離子電池的物性參數(shù)進行比較,進而找出鋰離子電池內(nèi)部影響自放電的關(guān)鍵因素。本發(fā)明基于面向物質(zhì)衰減系數(shù)的數(shù)字X射線層析成像術(shù),實現(xiàn)了鋰離子電池自放電內(nèi)在影響因素的實時、無損檢測,對于提升我國在電池自放電檢測領(lǐng)域技術(shù)水平具有重要現(xiàn)實意義。
聲明:
“鋰離子電池自放電內(nèi)在影響因素檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)