本實(shí)用新型涉及高光譜無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種單籽粒玉米種子雙表面高光譜檢測(cè)裝置，包括支撐件、外轉(zhuǎn)動(dòng)件、內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)件和高光譜采集單元。外轉(zhuǎn)動(dòng)件可轉(zhuǎn)動(dòng)安裝于支撐件頂部，內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)件轉(zhuǎn)動(dòng)安裝于外轉(zhuǎn)動(dòng)件，外轉(zhuǎn)動(dòng)件為V型，并形成內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)件的轉(zhuǎn)動(dòng)空間。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的單籽粒玉米種子雙表面高光譜檢測(cè)裝置，外轉(zhuǎn)動(dòng)件的V型夾角不但為玉米籽粒提供了兩個(gè)表面檢測(cè)的檢測(cè)位，而且形成轉(zhuǎn)動(dòng)空間，既能推動(dòng)內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)件轉(zhuǎn)動(dòng)，又對(duì)內(nèi)轉(zhuǎn)動(dòng)件的轉(zhuǎn)動(dòng)形成約束，以完成玉米種子籽粒的翻面。從而能夠通過高光譜采集單元獲取玉米籽粒兩個(gè)表面的高光譜信息，更加準(zhǔn)確反映出整粒玉米種子的真實(shí)情況。