本實用新型公開了一種相控陣檢測校準試塊,其包括主體部為矩形塊,其頂面配置有臺階結(jié)構(gòu),相鄰臺階結(jié)構(gòu)的高度差相等;所述臺階結(jié)構(gòu)還配置有測試孔,所述測試孔沿所述主體部的縱向設(shè)置,其自所述主體部的一個側(cè)面沿縱向延伸而成;相鄰測試孔的縱向長度不同;所述主體部包括第一臺階結(jié)構(gòu)、第二臺階結(jié)構(gòu)、第三臺階結(jié)構(gòu)、第四臺階結(jié)構(gòu)、第五臺階結(jié)構(gòu)和第六臺階結(jié)構(gòu),臺階結(jié)構(gòu)對應(yīng)頂面的粗糙度不大于Ra3.2。本實用新型提供的一種相控陣檢測校準試塊,用于不等厚復雜鑄鐵件的無損檢測,其結(jié)構(gòu)合理,使用方便,通過一個校準試塊完成校核,提高了校核效率,有利于準確高效的完成相關(guān)測試。
聲明:
“相控陣檢測校準試塊” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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