本發(fā)明公開了一種利用射頻標(biāo)簽陣列和其極化特性檢測物品質(zhì)量的裝置,包括正交極化排列或者并排排列的射頻標(biāo)簽即射頻標(biāo)簽陣列,頻譜儀,所述射頻標(biāo)簽內(nèi)包括天線和射頻
芯片,射頻標(biāo)簽充電后發(fā)射信號,頻譜儀或者射頻接收機(jī)收集陣列中各個射頻標(biāo)簽產(chǎn)生的回波射頻信號并進(jìn)行分析和處理。本發(fā)明的一種利用射頻標(biāo)簽陣列和其極化特性檢測物品質(zhì)量的裝置,通過使用射頻標(biāo)簽陣列,有效克服了從單個射頻標(biāo)簽的回波射頻信號無法提取所附著物品足夠信息的缺陷。射頻標(biāo)簽陣列不同的陣列組合可以適應(yīng)對不同物品無損監(jiān)測的需求,同時通過個性化的射頻標(biāo)簽天線的設(shè)計(jì)和組陣,改善對有些物品通過單個射頻標(biāo)簽無法進(jìn)行有效質(zhì)量監(jiān)測的狀況。
聲明:
“利用射頻標(biāo)簽陣列和其極化特性檢測物品質(zhì)量的裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)