本發(fā)明的目的在于提供一種基于微波熱成像技術(shù)的吸波涂層內(nèi)部缺陷檢測裝置及方法,屬于吸波材料缺陷無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。該裝置利用天線輻射的電磁信號致熱吸波涂層,并借助紅外熱像儀測量涂層的內(nèi)部缺陷的紅外信號,通過改變致熱功率使涂層表面的缺陷區(qū)域的溫度達到動態(tài)平衡,結(jié)合熱能與電磁能的轉(zhuǎn)化關(guān)系,建立反射率、涂層入射場強以及缺陷區(qū)域溫度的關(guān)系式,最終建立反射率與缺陷深度的關(guān)系。本發(fā)明方法不需考慮線纜損耗的影響,使得缺陷深度計算結(jié)果更為準確。
聲明:
“基于微波熱成像的吸波涂層內(nèi)部缺陷檢測裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)