本實(shí)用新型涉及一種掃描式鹵素?zé)魴z測(cè)發(fā)動(dòng)機(jī)葉片內(nèi)部脫粘缺陷的裝置。目前,航天飛機(jī)的發(fā)動(dòng)機(jī)葉片性能的優(yōu)劣直接影響到飛機(jī)的性能,其長(zhǎng)時(shí)間服役于高溫高壓高強(qiáng)度環(huán)境下,極易產(chǎn)生內(nèi)部脫粘和表面裂紋等缺陷。一種掃描式鹵素?zé)魴z測(cè)發(fā)動(dòng)機(jī)葉片內(nèi)部脫粘缺陷的裝置,其組成包括:熱激勵(lì)系統(tǒng)、成像系統(tǒng)、試件掃描系統(tǒng)和圖像處理及分析系統(tǒng),所述的熱激勵(lì)系統(tǒng)中由數(shù)據(jù)采集卡(28)、調(diào)光器(26)、鹵素?zé)?、凹透鏡(19)、凸透鏡(18)組成,數(shù)據(jù)采集卡輸入端與計(jì)算機(jī)輸出端相連,數(shù)據(jù)采集卡輸出端與調(diào)光器輸入端相連,調(diào)光器輸出端與鹵素?zé)糨斎攵讼噙B。本實(shí)用新型應(yīng)用于紅外熱波無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域,同時(shí)應(yīng)用于航空航天領(lǐng)域。
聲明:
“掃描式鹵素?zé)魴z測(cè)發(fā)動(dòng)機(jī)葉片內(nèi)部脫粘缺陷的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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