本實(shí)用新型提供一種粉狀物的非接觸成分檢測(cè)系統(tǒng),包括:遮光罩,以保證檢測(cè)暗環(huán)境;激光線光源,用于發(fā)射線狀激光;二維平移臺(tái),用于放置樣品并在二維方向移動(dòng)樣品,使樣品的整個(gè)表面接受激光的動(dòng)態(tài)線掃描;分束濾光片,用于反射線狀激光至樣品表面,并將自樣品表面得到的信號(hào)光傳遞至鏡頭;鏡頭,用于收集自所述樣品表面得到的經(jīng)動(dòng)態(tài)線掃描的信號(hào)光;高通濾光片,用于將所述信號(hào)光進(jìn)行高通濾光;拉曼光譜儀,用于接收經(jīng)高通濾光后的信號(hào)光,得到光信號(hào);CCD,與所述拉曼光譜儀相連,用于將所述光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào),并傳送至處理器;處理器,用于根據(jù)所述整個(gè)樣品的圖譜信息分析樣品成分。本實(shí)用新型能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)于粉狀物的快速無(wú)損檢測(cè)。
聲明:
“粉狀物的非接觸成分檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)