本發(fā)明公開了一種基于差值偏置檢測(cè)的塊浮點(diǎn)數(shù)據(jù)壓縮方法及裝置,所述方法包括計(jì)算原始?jí)K浮點(diǎn)數(shù)據(jù)的調(diào)整量及無(wú)損壓縮增益;根據(jù)所述無(wú)損壓縮增益,判斷所述原始?jí)K浮點(diǎn)數(shù)據(jù)是否存在差值偏置壓縮增益;若是,則將所述調(diào)整量作為所述原始?jí)K浮點(diǎn)數(shù)據(jù)的塊內(nèi)差值偏置值;根據(jù)所述塊內(nèi)差值偏置值對(duì)所述原始?jí)K浮點(diǎn)數(shù)據(jù)進(jìn)行偏置處理,生成第二塊浮點(diǎn)數(shù)據(jù);計(jì)算所述第二塊浮點(diǎn)數(shù)據(jù)的最大數(shù)據(jù)位寬,繼而根據(jù)預(yù)設(shè)的壓縮系數(shù)調(diào)整參數(shù)及所述最大數(shù)據(jù)位寬計(jì)算浮點(diǎn)數(shù)據(jù)塊壓縮系數(shù);根據(jù)所述浮點(diǎn)數(shù)據(jù)塊壓縮系數(shù)對(duì)所述第二塊浮點(diǎn)數(shù)據(jù)進(jìn)行壓縮處理。通過(guò)實(shí)施本發(fā)明實(shí)施例能夠提高壓縮浮點(diǎn)數(shù)據(jù)時(shí)的壓縮性能。
聲明:
“基于差值偏置檢測(cè)的塊浮點(diǎn)數(shù)據(jù)壓縮方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)