本發(fā)明公開了一種基于高光譜技術(shù)的復(fù)合絕緣子老化程度檢測(cè)方法可以實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)合絕緣子的非接觸、快速無損傷檢測(cè);能夠從各特征參量上實(shí)現(xiàn)高光譜譜線到老化程度的信息映射;能夠通過建立的模型對(duì)絕緣子老化程度進(jìn)行分析,對(duì)更換老化程度高的絕緣子提供指導(dǎo)和參考,提高輸電線路供電穩(wěn)定性與安全性。
聲明:
“基于高光譜技術(shù)的復(fù)合絕緣子老化程度檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)