本發(fā)明公開(kāi)了用于手性粒子光學(xué)檢測(cè)和分選的裝置及方法,裝置由激光器、非偏振分光棱鏡、反射鏡、矢量光場(chǎng)生成系統(tǒng)、計(jì)算機(jī)和高數(shù)值孔徑物鏡組成;方法通過(guò)計(jì)算機(jī)控制矢量光場(chǎng)生成系統(tǒng),將激光器發(fā)出的激光裁剪為具有特定空間分布的矢量光場(chǎng),并利用高數(shù)值孔徑物鏡將其聚焦,在物鏡焦場(chǎng)區(qū)域生成橫向自旋橫向光針焦場(chǎng)。當(dāng)手性粒子與橫向自旋橫向光針焦場(chǎng)相互作用時(shí),作用在粒子上的非手性梯度力被光針焦場(chǎng)抑制,且不同手性的粒子將在手性梯度力的作用下被捕獲在光針焦場(chǎng)的不同位置,并以不同的頻率在捕獲位置發(fā)生自轉(zhuǎn)。本發(fā)明不僅可以實(shí)現(xiàn)對(duì)分子手性的探測(cè),而且能夠無(wú)損傷地對(duì)手性粒子進(jìn)行分選,在一系列涉及手性光學(xué)的領(lǐng)域都有著廣闊的應(yīng)用前景。
聲明:
“手性粒子光學(xué)檢測(cè)和分選的裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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