本發(fā)明公開了一種基于光纖光譜儀的光學薄膜厚度檢測裝置及方法。光學平臺上一側從上到下順次設有第一支撐柱、第一固定塊,光學平臺上另一側從上到下順次設有第二支撐柱、第二固定塊,第一支撐柱、第二支撐柱上端固定有支撐橫梁,支撐橫梁下端設有Z向移動軌道,在Z向移動軌道上設有L型固定塊,在L型固定塊上設有光纖光譜儀探頭橫梁,在光纖光譜儀探頭橫梁上設有光纖光譜儀探頭,在光纖光譜儀探頭右側設有光學顯微鏡,光學平臺上從下到上順次設有X、Y步進電控平移臺、樣品臺、待測樣品。本發(fā)明可以實時在線無損地獲得光學薄膜樣品不同位置的厚度信息。
聲明:
“基于光纖光譜儀的光學薄膜厚度檢測裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)