本發(fā)明公開一種超導交流磁化率測量裝置及測量方法,屬于超導電子學領域。通過將被測超導材料放置初級線圈和次級線圈之間,然后一并固定在密閉真空室內,通過壓縮制冷機對被測超導材料制冷,通過鎖相放大器提取次級線圈感應的電壓信號,同時鎖相放大器為初級線圈提供交流電壓激勵,通過溫控儀測量被測超導材料的溫度,通過計算機存儲鎖相放大器測得的電壓信號和溫控儀測得的溫度信號并實時顯示鎖相放大器測得的電壓信號隨溫度變化的曲線。通過本發(fā)明可以對超導材料的轉變溫度進行無損測量,便于及時掌握測量情況,是高效、準確、可靠的測試手段,對制備超導材料性能檢驗有一定的實用價值。
聲明:
“超導交流磁化率測量裝置及測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
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