本發(fā)明公開了一種基于深度學(xué)習(xí)的樹木根徑和深度預(yù)測(cè)方法及預(yù)測(cè)系統(tǒng),屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。所述方法采用探地雷達(dá)A?Scan數(shù)據(jù)進(jìn)行樹根半徑和深度的預(yù)測(cè),相比于B?Scan圖像,A?Scan數(shù)據(jù)包含更多有關(guān)半徑和深度的信息,且更加容易被深度模型學(xué)習(xí)到,因此,使用A?Scan數(shù)據(jù)作為數(shù)據(jù)集更容易訓(xùn)練出精度高、魯棒性強(qiáng)的根系半徑和深度預(yù)測(cè)模型;采用卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)和注意力機(jī)制組成的深度學(xué)習(xí)模型來(lái)預(yù)測(cè)樹根半徑和深度,使用注意力機(jī)制突出關(guān)鍵特征對(duì)模型預(yù)測(cè)的影響,并通過(guò)卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)將局部特征綜合為全局特征完成對(duì)樹根半徑和深度的預(yù)測(cè),可以有效提高根系半徑和深度預(yù)測(cè)的準(zhǔn)確性。
聲明:
“基于深度學(xué)習(xí)的樹木根徑和深度預(yù)測(cè)方法及預(yù)測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)