本發(fā)明公開了一種二維材料疇區(qū)尺寸的測量方法及測量儀器,測量方法包括:S100、構(gòu)建用于測量二次諧波角度分布的儀器;S200、將置于基底片上的二維材料放置在儀器上,獲得不同角度的二次諧波信號;S300、根據(jù)不同角度的二次諧波信號計算分析得到二維材料的疇區(qū)尺寸。本發(fā)明能快速、無損地測量大面積的二維材料薄膜的疇區(qū)分布,對二維材料薄膜在器件中的大規(guī)模應(yīng)用可以起到重要幫助。
聲明:
“二維材料疇區(qū)尺寸的測量方法及測量儀器” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)