本發(fā)明提供一種光窗電磁屏蔽效能原位測(cè)試裝置及方法,屬于電磁性能測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。該裝置基于介質(zhì)諧振器,利用介質(zhì)諧振器
儲(chǔ)能與耗能的關(guān)系測(cè)量出光窗內(nèi)部導(dǎo)電網(wǎng)柵的等效微波表面電阻,進(jìn)而計(jì)算出導(dǎo)電網(wǎng)柵的等效電導(dǎo)率,根據(jù)電導(dǎo)率與電磁屏蔽效能的關(guān)系獲得光窗的電磁屏蔽效能。該裝置能夠在單側(cè)加載傳感器且不接觸導(dǎo)電網(wǎng)柵的情況下實(shí)現(xiàn)光窗屏蔽效能的無損測(cè)試,為服役條件下光窗的維護(hù)保養(yǎng)提供重要的技術(shù)支撐。
聲明:
“光窗電磁屏蔽效能原位測(cè)試裝置及測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)