本發(fā)明是一種基于高光譜建立水果中腐敗真菌生長曲線的方法,屬于食品質(zhì)量安全快速檢測和監(jiān)測的無損技術(shù)。通過高光譜成像儀,分別獲取真菌不同生長階段的高光譜圖像,分析不同類型不同階段真菌圖像及光譜之間的差別,提取相應(yīng)的圖像和光譜特征參數(shù),分別構(gòu)建了三種真菌的生長模型,與傳統(tǒng)的微生物生長檢測手段得到的生真菌長情況相比較,相關(guān)系數(shù)在0.88-0.96。本發(fā)明為微生物及在食品中的生長檢測提供了新思路和新技術(shù),能夠更方便快捷的建立真菌生長曲線,并能用于水果腐敗真菌病害的檢測、監(jiān)測和控制。
聲明:
“基于高光譜圖像對腐敗真菌生長預(yù)測的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)