一種超聲波同時測量涂覆層厚度與內(nèi)界面粗糙度的方法,屬于材料超聲無損檢測與評價技術領域。該發(fā)明采用一個包括試樣臺、內(nèi)界面粗糙涂覆層試樣、延遲塊探頭、探傷儀、數(shù)字示波器以及計算機的超聲脈沖回波檢測系統(tǒng),針對無損表征內(nèi)界面粗糙涂覆層的厚度與粗糙度難題,推導出了內(nèi)界面粗糙涂覆層結構的聲壓反射系數(shù)幅度譜|r(f;Rq, d)|,對不同頻帶寬度內(nèi)理論與實驗的聲壓反射系數(shù)幅度譜進行相關性運算,得到每個帶寬下相關系數(shù)最大值ηmax(Rq, d)對應的涂覆層厚度di與粗糙度Rqi,分別對不同頻率窗內(nèi)測量的厚度、粗糙度求平均得到與二者即為所求的涂覆層厚度與內(nèi)界面粗糙度。該方法填補了該類涂覆層厚度與粗糙度無損表征方法的空白。
聲明:
“超聲波同時測量涂覆層厚度與內(nèi)界面粗糙度的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)