一種采用光柵投影實(shí)現(xiàn)測量的工業(yè)內(nèi)窺鏡探頭,屬于無損檢測領(lǐng)域,它包括外殼體、內(nèi)殼體、CCD器件和成像物鏡;在所述探頭的橫截面上,外殼體和內(nèi)殼體均呈圓形,內(nèi)殼體設(shè)置于外殼體內(nèi)且其頂部與外殼體內(nèi)壁相接,所述CCD器件和成像物鏡均設(shè)置于內(nèi)殼體內(nèi),CCD器件的靶心、成像物鏡的中心與內(nèi)殼體的中心共線,在外殼體和內(nèi)殼體之間設(shè)有照明光源和光柵投影裝置。本實(shí)用新型能夠?qū)⒊上?、多條紋投射定標(biāo)和照明全部集中在探頭前端,實(shí)現(xiàn)了3D相位法測量,同時增加了探頭空間的有效利用率,從而降低了無損檢測的設(shè)備成本,提高了工作效率。
聲明:
“采用光柵投影實(shí)現(xiàn)測量的工業(yè)內(nèi)窺鏡探頭” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)