本發(fā)明涉及光譜探測技術領域,提供一種基于太赫茲波的探測裝置,該探測裝置包括:信號產(chǎn)生單元、待檢單元、信號增強單元和信號探測單元,其中,信號產(chǎn)生單元用于向待檢單元和信號增強單元發(fā)射第一太赫茲波;待檢單元中用于設置待檢物質(zhì);信號增強單元包括正電極和負電極,正電極和負電極之間形成偏置電場,偏置電場能夠增強第一太赫茲波;信號探測單元用于探測第一太赫茲波穿過待檢單元且穿過偏置電場后形成的第二太赫茲波。通過在信號增強單元中設置正電極和負電極,形成偏置電場,該偏置電場可以增強太赫茲波,通過信號探測單元的探測,得到待檢物質(zhì)的特征。在上述探測裝置中,通過偏置電場增強太赫茲波,成本低廉,而且無損傷閾值。
聲明:
“基于太赫茲波的探測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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