本實(shí)用新型公開了一種用于涂層耐蝕性原位測(cè)試的
電化學(xué)探頭,其探頭借助負(fù)壓直接吸附在被檢測(cè)涂層表面,無(wú)需破壞涂層,即可進(jìn)行金屬基、陶瓷基、非金屬材料基等涂層的檢測(cè),可實(shí)現(xiàn)在役裝備涂層、涂層樣品的原位無(wú)損檢測(cè),保證試驗(yàn)結(jié)果的重復(fù)性,適用于各種涂層材料的耐蝕性能檢測(cè)。另外,本實(shí)用新型還具有裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,可設(shè)計(jì)性強(qiáng),適用面廣,操作方便,效率高等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“用于涂層耐蝕性原位測(cè)試的電化學(xué)探頭” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)