本發(fā)明涉及
電池材料技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種薄膜電極材料電導(dǎo)率的測(cè)試方法。具體步驟為:將薄膜電極材料進(jìn)行沖洗并真空干燥,獲得測(cè)試用薄膜電極材料;將所述測(cè)試用薄膜電極材料采用太赫茲時(shí)域光譜儀進(jìn)行檢測(cè),獲得所述薄膜電極材料的樣品時(shí)域脈沖信號(hào),并在相同光譜條件下獲得背景時(shí)域脈沖信號(hào)作為參考信號(hào);根據(jù)所述樣品時(shí)域脈沖信號(hào)和參考信號(hào)按照預(yù)定的計(jì)算方法計(jì)算獲得所述薄膜電極材料的電導(dǎo)率。本發(fā)明非侵入式、無損檢測(cè)方法,且操作簡(jiǎn)單方便,便于觀察,工作效率高,為薄膜電極電導(dǎo)率檢測(cè)提供了一種新的方法和思路。
聲明:
“薄膜電極材料電導(dǎo)率的測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)