本發(fā)明涉及一種基于光柵投影三維成像的多光譜三維形貌測量方法及裝置,屬于無損檢測技術領域。本發(fā)明裝置主要包括信號處理器、光譜分析儀、多光譜圖像采集儀、多光譜投影儀。本發(fā)明方法可以在測量表面顏色、材質不均勻的物體時自適應性調節(jié)裝置所工作的光譜波段,針對所測量物體不同區(qū)域光譜發(fā)射率不同的情況自動規(guī)劃待測量光譜集,并通過多光譜圖像數(shù)據(jù)融合的方法提高測量的整體精度,而且測量速度快,測得點云密集,點云泊松重構得到的物體表面三維形貌細節(jié)豐富。本發(fā)明大幅提高了光學三維形貌測量技術對測量環(huán)境的適應性,可以應用于材料的健康檢測系統(tǒng)中。
聲明:
“基于光柵投影三維成像的多光譜三維形貌測量方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)