用墊片及數(shù)字射線測量材料厚度及缺陷高度的裝置屬于無損檢測領域。其特征在于:包括射線源,以及放置在被檢位置或缺陷位置上方或下方的墊片而帶固定斜率的試塊放置于缺陷位置的附近并和墊片同時放置在被檢測材料上方或下方(同側(cè));被檢材料的另一側(cè)放置有數(shù)字射線接收平板;射線接收平板連接到數(shù)據(jù)顯示處理單元。墊片要求是與被檢測材料同材質(zhì),并且內(nèi)部無缺陷、厚度一致的材料;墊片的形狀為長方體或者弧形塊狀物。墊片的作用:就是當焊縫余高很小或者材料本身沒有焊縫及余高時,缺陷位置厚度會小于斜率試塊上任何位置的厚度,也就是該點的灰度會大于斜率試塊上任意點的灰度,造成無法在斜率試塊上找到相同灰度點。
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