本發(fā)明提出一種材料內(nèi)部缺陷的全光學(xué)激光超聲測定方法。本發(fā)明先測定被測物內(nèi)部缺陷在x-y面上的二維位置和尺寸,然后測定被測物內(nèi)部缺陷在z方向的深度。本發(fā)明方法能夠掃查檢測得到內(nèi)部缺陷的三維位置和尺寸信息、具有高精度、高效性、適用于各類材料的無損檢測。
聲明:
“材料內(nèi)部缺陷的全光學(xué)激光超聲測定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)