本發(fā)明是關(guān)于一種基于太赫茲時域光譜測定巖石光學參數(shù)的方法及系統(tǒng),所述的方法包括:對巖石基底和巖石樣品進行檢測,獲取所述的巖石基底的太赫茲脈沖時域波形和所述的巖石樣品的太赫茲脈沖時域波形;對所述的巖石基底的太赫茲脈沖時域波形和所述的巖石樣品的太赫茲脈沖時域波形進行處理,得到所述的巖石樣品的吸收譜和折射率譜數(shù)據(jù)。本發(fā)明提供的一種基于太赫茲時域光譜測定巖石光學參數(shù)的方法及系統(tǒng),能夠?qū)r石進行快速、無損檢測,檢測方法易操作,數(shù)據(jù)處理簡單,重復(fù)性好。
聲明:
“基于太赫茲時域光譜測定巖石光學參數(shù)的方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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