一種精確測量波片相位延遲量的方法,屬波片參數(shù)測量技術(shù)領(lǐng)域,該裝置包括光源,光闌、起偏器、待測波片、檢偏器、光譜儀和計算機(jī),通過測量出第一光譜強(qiáng)度I1(λ)的分布曲線和第二光譜強(qiáng)度I2(λ)的分布曲線,得到歸一化光譜透過率T(λ)曲線。再根據(jù)透過率為定值的直線與所述歸一化光譜透過率T(λ)曲線的交點波長,利用計算機(jī)計算出待測波片相位延遲量和其他多個物理參數(shù)。本發(fā)明是一種非接觸無損測量技術(shù),通過測量可一次性獲得寬光譜范圍內(nèi)待測波片的絕對相位延遲量、有效相位延遲量、厚度、級次等多個物理參數(shù),本方法測量精度高,測量裝置易于調(diào)節(jié),對于起偏器、待測波片和檢偏器的方位無嚴(yán)格要求,適用于非復(fù)合型晶體波片的測量。
聲明:
“精確測量波片相位延遲量的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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